پاورپونت بررسی ساختار و عملکرد میکروسکپ FE-SEM در قالب 32 اسلاید، مقدمه: میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope) که به آن به اختصار SEM گویند یکی از ابزارهای مورد استفاده در فناوری نانو است که با کمک بمباران الکترونی تصاویر اجسامی به کوچکی 10 نانومتر را برای مطالعه تهیه می کند. ...
تاریخچه: میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) یا میکروسکوپ نیروی پویشی در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنینگ و گربراختراع شد. مانند تمام میکروسکوپهای پراب پویشی دیگر، AFM از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونه تحت بررسی حرکت میکند، استفاده میکند. در مورد م.ن.ا، نوکی بر روی کانتیلیور ...
در این مقاله کاربرد تئوری کنترل مقاوم در میکروسکوپ نیروی اتمی 1 مورد بررسی قرار میگیرد. مدل تیر پیوسته به عنوان مدل دقیق و پیچیده، و مدل جرم و فنر به عنوان مدل ساده از تیرکمیکروسکوپ نیروی اتمی، معرفی میشوند و عدم قطعیت 2 دینامیک- های مدل نشده در مدل جرم و فنر، محاسبه میشود. ...
در این مقاله ، تکنولوژی ساخت Cantileverمیکروسکوپ نیروی اتمی به روش Self-Sharpening nano Silicon وپیزوالکتریک پایه ALN مورد بررسی قرار گرفته است . tip های نانو سیلیکون ، بوسیله تکنولوژی اچ تر ناهمسانگرد و مکانیزم خود تیز شو(Self Sharpening) با استفاده از ماسکهای مخصوص 3 و 5 وجهی تولید می گردند ...
آشنایی با میکروسکوپ فلورسانس آزمایشگاه ویروس ...